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介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品技術(shù)特性
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定，諧振點(diǎn)自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為。介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)
1. 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3. 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4. 自動化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動測量。
5. 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6. DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
7. 計(jì)算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
8． 使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。
介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)特性
型號 |
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Q 值測量范圍 | 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 | Q值測量范圍：2～1023。 Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
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固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～10MHz ） ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） | 20kHz～10MHz ≤5％±滿度值的2％； 10MHz～50MHz； ≤6％±滿度值的2％； |
工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～10MHz ） ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） | 20kHz～10MHz ≤7％±滿度值的2％； 10MHz～60MHz； ≤8％±滿度值的2％ |
電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH | 14.5nH~8.14H |
電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF | 1～460pF |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF | 30～500pF 150pF以下±1.5pF； |
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1％ | 150pF以上±1％ |
信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz | 10kHz～50MHz |
頻率分段 （ 虛擬 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100～ 160MHz | 10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz |
頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字 | 3×10-5±1個(gè)字 |
三、介質(zhì)損耗測試儀正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
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